2. مبانی مترولوژی
پدیدآورنده : /جی.ام.اس. سیلوا,د سیلوا,De Silva
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع : ابزار اندازه‌گیری,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر, -- کالیبراسیون, -- مدیریت
رده :
QC
۱۰۰
/
۵
/
د
۵
م
۲۱۳۸۹
3. مبانی مترولوژی: (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک، عدم قطعیت اندازه گیری)
پدیدآورنده : / جی.ام.اس. سیلوا، [مترجم] جواد آذرپرا,عنوان به زبان اصلی: Basic metrology for ISO9000 certification ,2002
کتابخانه: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع : ابزار اندازه‌گیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
QC
۱۰۰
/
۵
/
د
۵
م
۲ ۱۳۸۹
4. مبانی مترولوژی: (ابعاد، جرم، فشار، نیرو، دما، الکتریک، عدم قطعیت اندازه گیری)
پدیدآورنده : / جی‌ام‌اس سیلوا,عنوان اصلی: Basic metrology for ISO9000 certification ,2002.
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : ابزار اندازه‌گیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو۹۰۰۰ ,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
QC
۱۰۰
/
۵
/
د
۵،
م
۲
